作为设计和制造的光学薄膜滤波片的专业生产商，益瑞电采用严格的质量保证流程。综合外观检验流程就是其中的一部分，它包括以下步骤：
关键区域
我们通过光束透射或反射的程度来检验通光孔径（通常是滤波片的中心区域）。
崩边/崩角（碎片）
在取芯或切割过程之后，我们在基片及滤波片膜上检验碎片。假如任何一种碎片延伸到滤波片的通光孔径，就不能通过滤波片目视检验。
光痕，划痕和次点
光痕是膜下方基片上的划痕。在强烈的照明下，光痕呈现为一条明亮的白线。光痕可长（贯穿整个滤波片）可短；可以是一条直线或由不同取向的直线组合。
如果滤波片在其通光孔径区域内含有光痕或划痕，当它的宽度大于给定的划痕值，那么这片滤波片就不能通过外观检验。如果在滤波片通光孔径区域内有多条光痕或划痕，所用参数将是通光孔径区域所有光痕参数之和。
缺陷
我们还检验一些在其他种类检验中不能发现的缺陷，如凹坑或镀膜不足的区域。滤波片在其通光孔径区域内含有缺陷时，如果它的宽度大于给定的凹坑值。 凹坑 值，那么这片滤波片就不能通过外观检验。如果在通光孔径区域内含有多个缺陷，则这些缺陷之和必须小于给定的凹坑值，才能通过目视检验。
凸起
凸起是由于滤波片一侧有多余的涂层材料引起的。任何含有明显凸起的滤波片都不能通过外观检验。